Safety Input Module Safety Data

5034-IB8S 및 5034-IB8SXT 디지털 안전 파라미터 데이터
항목
포인트 작동 유형
단일 채널
이중 채널(컨트롤러 명령어에서)
총 고장율(λ (안전 관련))
3.93497E-06
3.98296E-06
안전 고장율(SFF)
99.997%
99.997%
안전 실패율(λ
S
)
1.96748E-06
1.99148E-06
진단 범위(DC)
99.993%
99.994%
안전 감지 실패율(λ
SD
)
1.96736E-06
1.99136E-06
안전 미감지 실패율(λ
SU
)
1.28515E-10
1.23271E-10
위험 고장율(λ
D
)
1.96748E-06
1.99148E-06
위험 감지 고장율(λ
DD
)
1.96736E-06
1.99136E-06
위험 미감지 고장율(λ
DU
)
1.28515E-10
1.23271E-10
진단 테스트 간격(DTI)(시간)
8
8
하드웨어 오류 자동복구(HFT)
0
1
비논리적인 트립율(STR)
3.949E-06
4.118E-06
평균고장시간, 비논리적(MTTF-비논리적), (시간)
253259
242837
PFH(1/시간)
1.285E-10
1.233E-10
PFD
avg
, 20년 가동 기간에서
1.126E-05
1.080E-05
안전 반응 시간(SRT), (밀리초)
RPI가 변경되면, SRT(ms) = (RPI - 2) + 7 ms
7 @ RPI / 2 ms
7 @ RPI / 2 ms
Mean Time to Fail Dangerous(MTTF
D
) = 1/λ
D
Mean Time to Repair(MTTR)는 8시간 = DTI
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